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随着集成电路产业的不断发展，对电路的性能和可靠性等要求也不断的增多，而存储器作为集成电路产业不可或缺的重要组成部分，对其要求也在不断的增高，要求性能稳定，可靠性高。目前市面上有各式各样的存储器，但是PROM存储器依然以其优越的性能被人们越来越重视。PROM 存储器是一次性可编程存储器，数据不可更改，如果特殊情况下，存储的数据需要修改，我们可跳过已经编程的存储区域，使用还没有编程的存储空间更新数据。这种情况下，成本低、可靠性高的反熔丝PROM就脱颖而出。 在航天领域，空间环境中的宇宙射线或强磁层产生的高能带电粒子都会对集成电路造成干扰，在军工领域，更有可能受到敌方的各种干扰和各种自然环境的变化，由于反熔丝PROM存储器可以稳定可靠的保存数据，所以在辐射强、昼夜温差大、电磁干扰严重的外太空环境工作时具有无可比拟的优势。反熔丝 PROM具备快速读取、功耗低、抗辐照性强、可靠性高等优点，被广泛利用在航空环境中。既然PROM存储器经常在环境恶劣的情况下使用，对它的可靠性要求就比其它存储器更高，本文的主要目的就在于对反熔丝存储器的可靠性进行研究，这包含两部分，一部分是对反熔丝器件进行可靠性测试，另一部分是对PROM芯片的可靠性测试。 反熔丝结构相当于一个电容，在没有击穿之前，保存数据‘0’，击穿之后保存数据‘1’。本文首先对反熔丝PROM的存储单元的可靠性进行测试，然后测试其击穿电压和击穿后的各种特性，并对测试方法和测试环境进行了详细的描述。 为了测试反熔丝PROM芯片的可靠性，设计了一套基于FPGA的PROM可靠性测试系统，将反熔丝PROM存储器置于辐照环境中，然后实时地读取PROM中存储的数据，并与保存的正确数据对比，及时的反馈对比结果。做抗辐照实验时，为确保测试人员的安全，辐照的实验场所和控制场所是分离的，这就需要远程控制测试系统，需要用网线连接两台电脑，组成局域网，实现远程控制，PROM 存储器是抗辐照的，而FPGA不是，也需要将PROM存储器和FPGA进行隔离。通过UART串口，我们可以控制反熔丝PROM的初始化，读取数据和对比正确数据等操作，最后通过上板验证了整个测试系统的正确性。