系统芯片SoC是当前国际VLSI的发展趋势和新世纪集成电路发展的主流。SoC不论在开发周期,还是在系统功能、性能方面,均具有无可比拟的优点。与此同时,随着SoC集成IP核数目的增多,功能越来越复杂,SoC的测试数据量、测试功耗也随之急剧增加,测试成本变得更加昂贵,进而也就为SoC的测试带来了更大的挑战。对此,本文围绕SoC的测试数据压缩问题展开了研究,并提出了新的压缩/解压方案,来达到减少SoC测试数据量、缩短测试时间,并尽可能降低硬件开销和测试功耗的目的。编码压缩技术作为测试数据压缩方法的一个重要分支,已被广泛采用。本文分析了一些典型的编码技术,虽然压缩效率比较高,但是长游程的编码的压缩率不是很理想。针对这个问题,本文提出了编码前缀映射的压缩方法和长游程的二次编码压缩方法。首先,本文详细论述SoC测试面临的挑战、SoC测试相关概念、系统芯片SoC和IP核基本概念和SoC测试数据压缩技术的基本要求。然后,重点介绍了SoC测试数据的压缩技术,并详细讨论几种经典的编码压缩技术,分析了这些编码压缩技术的各自的优点和缺点,在此基础上提出了编码前缀映射的压缩方法,通过将编码的前缀进行一一映射,使得编码的前缀的平均长度达到最小。最后,本文提出了长游程编码的二次编码的压缩方法,其思想是:首先对测试向量进行如下的预处理:无关位进行填充处理和测试向量的相容合并、对测试向量进行排序和测试向量的差分变换,通过这些预处理减小了测试向量的体积,增加0的比率和长游程的比率,预处理后对差分变量进行一次编码,然后对长游程的编码进行二次编码。本文详细给出解压算法和相应的解压电路。本方法的解压缩电路简单、硬件开销小、测试向量的压缩率高。实验结果表明本方法的压缩率明显高于其它的编码的压缩率。