非常重要的器件,行波管工作的稳定性与行波管内所用集中衰减器的匹配性能密切相关,其匹配性能决定于构成集中衰减器的涂有衰减层的夹持杆上衰减涂层的分布。由此可见,夹持杆上衰减涂层的分布对于行波管的性能有着极其重要的作用,所以测试衰减涂层的分布有着重要的意义。对于行波管中的夹持杆上衰减涂层分布的测试,国内目前还只是通过测直流电阻的方法来粗略估计衰减涂层的分布,这种方法的误差大。本课题将会通过微波测量衰减的方法,建立一套测试系统对X,Ku波段行波管带有衰减分布涂层夹持杆上沿轴衰减分布函数的测试。为了提高测试的分辨率,将会设计一个高分辨率的测试传感器,并设计了避免场泄漏的屏蔽装置。采用测试|S₂₁|和|S₁₁|两个标量参数,后者代表无功的反射损耗,我们将从代表总插损的|S₂₁|中扣除以获得代表试样上所产生的纯粹的有功损耗,即每段衰减量的值。经过仿真和优化后加工出了X和Ku波段测试系统所需的测试传感器。提出了测试的总体方案并设计了测试系统中的标网电路。最后对于不同的夹持杆进行了测试,并给出了衰减涂层的分布曲线。测试结果表明,本研究的理论分析正确,测量系统准确。具有较强的使用价值。