【摘 要】
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随着大规模集成电路中内嵌IP核数量的增加，芯片功能越来越复杂，SoC的测试数据量的增加导致了测试成本的不断上升，给SoC测试带来更大的挑战。为此，本文针对大规模集成电路内嵌IP核
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随着大规模集成电路中内嵌IP核数量的增加，芯片功能越来越复杂，SoC的测试数据量的增加导致了测试成本的不断上升，给SoC测试带来更大的挑战。为此，本文针对大规模集成电路内嵌IP核的测试调度问题，基于多种约束条件并存的SoC测试优化模型，并引入遗传算法，提出合理的SoC测试调度方案，以达到尽可能缩短测试时间的目的。本文提出的算法在避免资源冲突的同时考虑了IP核之间执行顺序的优先关系，在多时域时钟并存的条件下保证芯片在功耗限制内正常测试，有效的提高测试效率。在以ITC’02测试基准电路为参考的数据实验和实际芯片的仿真测试中证明，本算法不仅在无冲突条件下与其它文献算法的解相同，而且提出了其它文献中没有的功耗和多时域时钟并存条件约束，因此得到的解更优。
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