IPC-205B型扫描隧道显微镜的硬件系统设计及其应用拓展研究

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【摘要】

：

扫描隧道显微镜(STM)作为纳米科技中最为有效和重要的检测加工手段之一,其应用随着纳米科技热的兴起而日益引起人们的重视,仪器本身的稳定性、图像质量、操作的简便性以及应用领域的拓展和产业化也越来越受到关注。通过对STM基本原理的了解,以及对相应于不同应用的改进技术和在同样原理基础上发展起来的新型检测仪器的了解为背景,通过比较和分析,找出给现有STM仪器增加新功能的可行性。在对其主要的缺陷和不足有了比

【作者】

：

辛洪政

【机构】

：

重庆大学

【发表日期】

：

2004年04期

【关键词】

：

扫描隧道显微镜扫描隧道谱原子力显微镜金属丝微悬臂

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