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扫描隧道显微镜(STM)作为纳米科技中最为有效和重要的检测加工手段之一,其应用随着纳米科技热的兴起而日益引起人们的重视,仪器本身的稳定性、图像质量、操作的简便性以及应用领域的拓展和产业化也越来越受到关注。通过对STM 基本原理的了解,针对IPC-205B 型机的研制和应用过程中遇到的一些问题,重点研究了STM.IPC-205B 的成像技术和性能,对其主要的缺陷和不足作了比较深入的研究和讨论,在此基础之上找出给现有STM 仪器提升性能及增加新功能的可行性。并进行了大量的实验研究,获