通过连续4个月的实验，我们获取了一套完整的玉米叶片生命周期的反射率光谱数据，在此基础上研究了玉米从发芽到死亡整个生命周期内叶片反射率光谱的变化规律，并比较分析了三种常用的植被叶片光谱测量方法，得到了以下主要结论：1.玉米叶片的7个反射率光谱特征位置不受玉米生长的阶段和生长位置的影响，比较恒定(M:382nm，B:523nm，G:552nm，Y:568nm，R:658nm，V:723nm，11:767nm)；2.除382nm、767nm两个特征位置外，其他几个特征位置的反射率光谱随时间的变化规律均近似于二次函数，且拟合精度均大于0.76；3.玉米叶片整个生命周期的反射率光谱是一个三维反射率曲面(波长，时间，反射率)，且所有生长位置叶片的该反射率曲面均可用波长、时间的函数很好地表示出来，从而我们可以利用某一位置叶片任意一天的反射率光谱数据模拟出该叶片整个生命周期的反射率光谱数据；4.三种常用的植被叶片光谱测量方法(积分球测量、直接在植株上测量、多个叶片平铺在地面上测量)从测量的本质上存在一定的异同：方法一测量的是只有直射光(积分球光源)条件下，植被叶片的方向半球反射率；方法二、三则测量的是既有直射光(太阳辐射)，又有漫射光(天空光)条件下的，方向+半球入射、某一方向出的反射率，但这三种方法不会影响叶片反射率光谱特征位置的稳定性，且三种方法测量得到的反射率数据按照方法一、方法二、方法三的顺序逐渐升高，可以分波段范围利用CSAM方法相互转换。