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本文论述了一类顺序统计量的分布及应用。
在小样本场合，检验样本是否服从某一个相同的分布，即进行数据相容性的检验，文献[9]对此问题提出检验统计量Z<,i,k,m>=X<,(k)>-X<,(i)>/X<,(m)>-X<,(i)>，1≤i≤k≤m≤n，其中X<,(1)><…为独立同分布样本X<,1>，…，X<,n>的次序统计量．将此结果推广到Z<,r,p,q,s>=X<,(p)>-X<,(q)>/X<,(r)>-X<,(s)>，1≤s≤q≤p≤r≤n的情形，在位置刻度参数族f(x；μ，σ)=1/σ f，(x-μ/σ)下给出该检验统计量密度函数的积分表达式，然后在均匀分布和指数分布场合下给出了其精确分布，正态分布场合下给出了密度的近似表达式．最后给出了该检验统计量在武器系统试验数据检验中的应用，并给出了小样本场合下正态分布的相容性检验方法和例子.