在现代工业中,越来越多的金属工件上使用了涂层。涂层的厚度对工件的性能和寿命具有很大的影响,因此涂层测厚的研究在工程上具有非常重要的意义。在生产中,因涡流检测具有快捷,灵敏度高等优点,涡流涂层测厚仪得到广泛地应用。本文利用LDC1000芯片设计了一款新型的涂层测厚仪,它依据厚度与并联谐振阻抗之间的关系进行测量。该测厚仪可根据被测基体的不同,创建对应的测量函数以适应不同基体上涂层厚度的测量。通过与PC机进行通信,该测厚仪的测量信息可在PC上进行显示和应用,同时在PC上也能对该测厚仪进行配置和校正。除此之外,该测厚仪操作方便,成本较低。本文首先介绍了该测厚仪的测厚原理,得出了提离距离(厚度)与并联谐振阻抗之间的基本规律。根据该规律,建立了两者之间的关系模型,并设计了计算程序对该模型进行演示。依据该模型,文中设计了有利于提高LDC1000测量精度的检测探头,并研究了基体厚度对测量的影响。然后文中进行了测厚仪电路的设计并完成了相关硬件的搭建。关于软件系统,通过信息读取、平稳化处理等功能的实现来完成厚度信息的计算和显示等。设计完成后,使用该测厚仪在铝基上进行实验并对实验数据进行分析,建立厚度与并联谐振阻抗之间的关系函数。通过对该函数进行理论上和实验上的验证,表明该函数具有较强的可靠性和精度。最后通过在其他金属基体上的实验,表明该测厚仪可适用于不止一种金属基体上的测量。