随着基础科学的进步和新科技的应用,粒子探测技术作为一种研究粒子的基本手段之一,得到了蓬勃发展。随着科学技术、核技术、粒子物理及现代电子学的发展,粒子探测器也在不断的变化发展。半导体探测器是目前最常见的探测器之一。随着探测性能的进一步改善与价格逐渐变得亲民,硅光电倍增管(Silicon Photomultiplier,SiPM)是目前应用于高能物理及核物理领域最广泛的半导体探测器之一。由于制造工艺的限制,SiPM具有个体性差异。因此在大规模应用SiPM时,通常要求对每个SiPM进行详细的测试,以得到它们各自的性能参数信息,筛选出性能参数不达标的元件,从而利用性能合格的SiPM构造大面积的探测器阵列。但是当前国内用于测试SiPM设备主要面向单路测试,其系统结构复杂,测试效率低,人工参与的程度高,无法实现快速有效的自动化测试,导致测试单个SiPM花费时间较长,也难以有效的扩展成多通道测试装置,因此难以克服批量测试SiPM遇到的困难,从而制约了SiPM的大规模应用。本文基于全波形采样方法,联合合作单位开发了新的光源驱动板与电源驱动模块代替传统SiPM的性能测试系统中的光源系统与电源系统,并与读出电子学组成新的SiPM批量测试系统。经过对光源驱动板、电源驱动模块与读出电子学三个子系统的性能评估证明其用于SiPM性能测试的可行性。其次,使用Lab VIEW语言将光源系统、电源系统的慢控制程序进行重开发并与电子学读出系统集成为一体,以实现测试过程中的智能化与自动化。同时,在PMT质量控制数据库的基础上开发了数据库系统,用于存储测试数据与参数配置文件。通过数据库前端可以的数据可通过Web或App访问并进行简单的数据处理。最后,通过两个版本的小规模批量测试,一次性完成了对8路SiPM的单光子分辨率测试,为了保证批量测试结果的可靠性,完成了为期一周的稳定性测试,证明SiPM批量测试系统可用于对SiPM的性能标定。