离子注入掺Er富硅氧化硅材料研究

来源 :中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所) | 被引量 : 1次 | 上传用户:weibo525525888
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Er3+在石英基体材料中受激光致发光的波长大约是1540nm,这个波长是石英光纤的最小损耗窗口,因而是以石英光纤为基础的光通讯的标准波长之一。掺铒光纤放大器(EDFA)作为获得光增益的媒质是光纤通讯系统中极其重要的组成部分。当前正在快速发展的城域网(MAN)、局域网(LAN)以及光纤到户(FTTH)等系统中对波分复用(WDM)/密集波分复用(DWDM)光信号能量衰减的补偿需要可集成的紧凑型、低成本掺铒光波导放大器(EDWA)。然而,Er3+在体硅中具有固溶度低和发光强度温度淬灭强的缺点,难以达到设计光波导放大器的要求。一种新颖的敏化发光技术使获得室温高效硅基掺铒发光成为可能。在掺铒的SiO2中形成Si-nc,利用Si-nc对Er3+的敏化作用可以提高Er3+对泵浦光的有效吸收截面;利用Si-nc带隙和Er3+跃迁能量之间较大的不匹配可以抑制温度淬灭效应。 本文利用离子注入方法制备了富硅氧化硅(SRSO)和掺铒富硅氧化硅(ErSRSO)材料,研究了材料微观结构和Er的化学状态随退火温度的演变。实验结果表明注入SiO2的富余Si原子经历了偏析集聚形成a-Si纳米颗粒继而在更高温度转变成nc-Si的演化过程;在900℃以上温度退火,形成非晶SiOx层包覆nc-Si的壳层结构;约900℃退火,形成具有光学活性的Er-O发光中心。 研究了富硅氧化硅和掺铒富硅氧化硅的光致发光特性以及退火对他们的影响。结果表明Er3+的出现和浓度升高都对Si-nc的光致发光有淬熄作用,证实了Si-nc与Er3+强耦合模型的正确性;发现壳层结构中残余非晶硅层是激发态Er离子非辐射去激发的通道之一,由此引起的能量背迁移是Er离子光致发光在T>150K温度淬灭的主要因素。 考虑到Er3+通过Si-nc间接被激发的过程,我们对描述激发态Er3+的速率方程进行了改写。与SiO2中Er3+直接被激发不同,从ErSRSO系统速率方程的解中得到1/Trise与φ是非线性关系,并被实验结果所证实。根据实验结果拟合得到我们所
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