固态存储系统以突出的性能优势和节能特性在电子行业中得到越来越广泛的应用。NAND型闪存是固态存储技术中目前最常用的存储介质，由于NANDFlash每一个闪存块的擦除次数有限，只要有一个块的擦除次数达到了上限，数据存储就变得不可靠。因此，需要设计高效的磨损均衡处理(wear-leveling)策略，尽可能让各闪存块保持相近的擦除次数以延长闪存的使用寿命。　　 本文以固态存储中的磨损均衡处理技术研究为中心，首先对国内外现有磨损均衡算法进行综述，然后，提出了一种基于FIFO结构的均衡处理算法，建立了磨损均衡模型，并进行了仿真验证，最后，为了满足固态存储技术研究的需要，提出一种大容量固态存储评估系统方案并详细介绍了其设计过程。本论文提出的均衡算法以及开发的大容量存储系统给固态存储的研究提供了一定的理论和实践基础，具有较好的指导和借鉴意义。　　 论文主要工作归纳如下：　　 1.总结了国内外学者在均衡处理领域研究成果，做出算法综述；详细介绍了几种典型算法实现步骤，对比其优缺点，并进行仿真分析；　　 2.针对大容量存储系统研究的项目背景，提出了一种基于FIFO结构的均衡处理算法，解决了先前算法无法同时达到低内存消耗和理想均衡效果的问题。建立了磨损均衡模型，从多角度对算法性能进行了仿真分析；　　 3.从理论上给出了均衡处理门限值的确定方法，推导出引入的额外擦除次数及其占总擦除次数的比例，执行仿真实验对额外擦除次数计算值进行验证；　　 4.开发出了基于FPGA的大容量固态存储评估系统板，其关键技术包括：采用结构化设计各功能模块；引入了并行扩展以及流水线操作技术以提高基于Flash芯片存储区的平均输入输出能力；通过可编程芯片配置Flash控制器，增强了可扩展性；设计ECC机制，提高了整个系统的数据可靠性。