SoC设计技术的飞速发展大大提高了芯片的产量,缩短了产品开发周期,但同时SoC的高集成度和复杂度使得芯片测试的复杂性随之激增、测试数据不断增长,另外受ATE带宽、频率的限制,测试时间过长,测试成本激增。因此SOC测试面临巨大的挑战。目前解决这类问题的有效技术为测试源划分技术,它主要分为三类：测试生成压缩、BIST和BOST技术。本论文主要研究的是基于分组的SOC测试数据编码压缩技术,属于BOST范畴。基于分组的编码压缩思想主要是为更好地利用测试向量间的相关性。将测试集按固定宽度分组,对每一组测试字段沿纵向对比编码,由于测试集中含有大量无关位,这种将测试集化整为零的措施一定会增大了测试分量相关的几率,从而为提高编码压缩率提供了思想基础。本论文基于这种思想提出了两种编码压缩方案,分别是：测试数据分组合并的索引编码压缩方案和测试数据分组相容的标记编码压缩方法。在测试数据分组合并的索引编码压缩方案中,首先根据每组测试字段间的相关性运用着色算法进行群划分,同时统计群内测试字段数。然后选取若干较大的群分别合并为标准字段,存入解压结构的ROM中以备索引。最后将合并后的测试字段进行索引编码。该方案实际是运用了分组统计手段进行编码。在测试数据分组相容的标记编码压缩方案中,对分组后的各组测试模式选取参考模式,考察其它测试模式与参考模式之间的相关性进行标记编码,同时不断对参考模式进行回溯更新,来增加了参考模式中的确定位,保证解码正确性。另外还要不断动态更换参考模式,以提高编码效率。针对两种编码方案分别给出了相应的解压方法和实验结果。通过与其它压缩方案进行比较,证明了两种方案的可行性、有效性。相对而言,电路硬件也没有增加太多的额外开销。