固定矫治中不同支抗设计磨牙稳定性的X线头影测量研究

来源 :中国医科大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangsongzhao99
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目的: 研究对称拔牙的固定矫治病例中不同支抗设计上下颌第一恒磨牙近中前移量差异,并分析支抗磨牙稳定性与年龄是否相关,以指导临床进行精确的支抗设计。 方法: 样本选择:从中国医科大学口腔医学院正畸科选取75例颌内对称拔牙患者矫治前后的x线头颅侧位片,其中男性32例,女性43例,平均开始矫治年龄15.1岁。上下颌牙弓分别统计:按支抗设计方式的不同各分4组,强支抗组,中度支抗组,弱支抗组,极弱支抗组;将中度支抗组病例按年龄分组,A组(13y以下),B组(13y-16y),C组(16y以上)。测量方法:以腭平面为x轴,过鼻根点做腭平面垂线为y轴,测量上下颌第一磨牙近中接触点到y轴的距离,计算矫治前后差值—磨牙前移量。将病例资料输入计算机,使用SPSS11.0软件进行统计学分析。 结果: 1、强、中、弱、极弱支抗组磨牙前移量,上颌分别为:1.58±0.68mm,2.76±1.33mm,3.34±1.28mm,4.31±1.28mm;下颌分别为:1.43±0.95mm,3.37±1.49mm,3.78±0.73mm,4.41±0.89mm。对上下颌各组治疗前后测量值配对t检验,有显著统计学差异(P<0.01)。各组治疗前后上下颌磨牙角度的变化,无显著统计学差异(P>0.05)。 2、上下颌强支抗组与中度支抗组、弱支抗组、极弱支抗组第一磨牙前移量比较,有显著统计学差异(P<0.01),4组中强支抗组第一磨牙稳定性最强。中度支抗组与极弱支抗组第一磨牙前移量比较,有统计学差异(P<0.05),说明极弱支抗组磨牙稳定性较中度支抗组差。 3、中度支抗不同年龄组支抗磨牙前移量的比较 (1)上颌:A、B、C各组磨牙前移量分别为3.67±1.34mm;3.01±1.11mm;2.15±0.66mm。C组(16y以上)与A组(13y以下)比较,经方差分析其差异有高度显著性(P<0.01);c组与B组(13y-16y)比较,差异有统计学意义(P<0.05)。说明随着患者矫治年龄增大支抗磨牙稳定性增强。 (2)下颌:A、B、C各组磨牙前移量分别为4.65±1.75mm;3.47±0.75mm;2.34±1.03mm。A组(13y以下)与B组(13y-16y),A组与C组(16y以上)比较,经方差分析其差异有高度显著性(P<0.01);C组与B组比较,差异有统计学意义(P<0.05)。 4、经Pearson相关分析,上下颌磨牙前移量与年龄呈负相关关系(上颌:r=-0.42,P=0.004;下颌:r=-0.47,P=0.00 1)。 结论: 1、上下颌不同支抗设计方法比较,口外增强支抗组患者支抗磨牙更稳定。拔除第一双尖牙组较拔除第二双尖牙组,支抗磨牙更稳定。 2、上下颌中度支抗组各年龄段第一磨牙前移量比较表明年龄较大组支抗磨牙前移量越小,支抗磨牙越稳定。
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