随着半导体技术的飞速发展,集成电路的设计规模和复杂度不断提高,芯片测试所必需的测试向量变得十分庞大,相应的测试时序也越来越复杂,测试开发工作变得十分困难。电子设计自动化(EDA)工具产生的仿真向量(Test Pattern,也称为测试图形)一般不能直接被自动测试设备(ATE)所使用,须转换为ATE可以识别的测试向量,测试向量转换成为测试程序开发的关键步骤之一。测试向量转换需要综合考虑仿真向量的语法结构和ATE的测试时序,否则,可能转换不成功,或者调试(Debug)不通过。通常,测试向量转换是一个费时费力的过程,关系到芯片测试成本,甚至可能影响产品的上市时间。本课题首先讨论ATE测试技术,分析ATE测试的优缺点和ATE测试信号的合成方法,研究测试接口板设计、测试向量转换、测试程序调试和测试程序优化等开发技术。分析测试向量转换过程,研究ATE测试向量转换技术,重点研究VCD电平分离、测试时序提取、测试向量生成和测试向量压缩等关键技术。研究ATE的测试时序和仿真VCD的语法结构,提出一种高效的ATE测试时序优化算法,用软件实现自动化,并保证优化前、优化后VCD文件格式不变。本课题选取Agilent 93000 SOC Series测试系统作为软件开发平台,综合运用Perl脚本编程语言,开发出一套ATE测试向量转换软件,实现了ATE测试向量的自动转换。该软件集成了测试时序优化和测试向量压缩等功能,提高了测试向量转换成功率和转换效率,缩短了测试程序调试时间,加快了测试程序开发速度,可以为芯片设计方提供高效的测试开发服务。