随着半导体工艺的迅速发展,越来越多的SoC系统采用了IP硬核复用技术。IP硬核易于集成,性能稳定,可缩短SoC设计时间。但由于IP硬核的工艺要求较高,使得对其测试非常复杂。国内尚无IP硬核的评测标准,IP硬核的测试已经成为IP硬核设计和复用的瓶颈。因此研究IP硬核的评测技术成为国家信息产业的重大课题,具有重要的理论价值和实际意义。　　本文研究了国内外IP核相关的最新标准,对不同种类IP硬核的测试方法做了分类研究,重点研究了IP硬核的硅验证、功能验证和电参数测试方法。利用集成电路测试机台Verigy93000构建了IP硬核的测试平台。根据IP硬核的测试方法,利用Verigy93000分别对数字IP硬核PLL680、模拟/混合IP硬核S0133AD和S018DA进行了测试实践。同时对模拟/混合IP硬核的关键算法进行了较为深入的探索和研究。从测试结果来看,测试方法正确,测试的各项指标均符合要求。本文还研究了IP硬核的质量评估技术,提出并建立了IP硬核质量评估的数学模型。目前这一模型已得到了初步应用。　　课题的研究成果在一定程度上促进了国内IP硬核评测技术的发展,为建立和完善IP硬核的国家评测标准打下了基础。