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随着FPGA规模和复杂度的不断提高,FPGA的测试也变得越来越复杂。在一般的工业应用中,往往会先利用PC平台由FPGA内部JTAG链加载激励和采集响应,实现对FPGA内部互连线,可重构逻辑块和块存储器资源的功能遍历测试,整个平台成本低,实现方便,但测试速度低,花费大量时间,并且没有从输入输出引脚直接加载激励和采集响应,不能实现对所有引脚的测试,所以经过PC平台的功能测试筛选后,ATE机台还需提供更高速功能测试,完成输入输出引脚的测试,使PC平台更多只承担调试的角色。ATE成熟的配套软件使得测试程序开发简单,但ATE机台价格昂贵,机时紧张,同时体积大,功耗大,测试成本极高且不方便。因此,以较高的测试时钟频率,明显的时间和价格成本优势,实现从输入输出引脚加载激励采集输出,完成FPGA功能自动化遍历测试,成为本论文的研究课题。本论文搭建的自动化测试系统基于PXI平台,其中使用的PXI-6542板卡提供32位数字通道,参考时钟频率高达100MHz,为高速测试FPGA提供了可能。硬件上,在PXI数字通道与待测FPGA间加入Altea FPGA,并在其内部实现类JTAG链结构,解决了通道扩展和输入输出属性动态分配问题,实现了从FPGA的输入输出引脚加载激励采集响应的设计目标。14条类测试链并行工作的结构的提出进一步加快了测试的速度。软件上,首先定义nbf,ntf等测试文件格式,以二维数组的格式存储每个通道在每个周期的数据,存储测试向量。然后由LabVIEW编程读取测试文件,获取测试向量数据,并驱动PXI-6542板卡引出数据生成事件,设置采集触发模式,实现测试向量的同步生成和采集,完成PXI平台与FPGA间测试向量的交互。结合软硬件平台的工作,通过对FDP3P30芯片互连线,可重构逻辑块和块存储器资源功能的自动化遍历测试,验证了基于PXI平台的自动化测试系统的正确性。对基于PXI FPGA自动化测试系统进一步分析：与ATE平台进行功能测试相比,提供了相同的时钟频率的前提下,在价格成本和便携性上有很大优势；与PC机平台相比,整体测试时间的测试时间减少了46%,并完成了从输入输出引脚加载激励采集输出。综上所述,基于PXI FPGA自动化测试系统比PC平台和ATE平台功能测试方案更有优势,完成FPGA高速自动化遍历测试的设计目标,并节约时间和价格成本。