发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)是一种固态半导体发光器件，由于其独特的高光效、长寿命、固态、环保等优点，成为近年来照明技术领域的研究热点。然而功率型LED的性能仍受结温等因素影响，其结温的升高不仅降低光效输出，而且会影响LED可靠性，缩短其使用寿命。因此，对于功率型LED其可靠性研究至关重要。本论文以液晶电视背光模组中的功率型LED为研究对象，研究了三部分内容。首先测试了LED的光电特性，根据测试结果分析了LED光电特性随电流增大及结温升高的变化规律，发现大电流和高结温会造成LED光电特性发生剧变，从而严重影响LED可靠性。本论文在充分调研了LED结温测量方法，特别是正向电压法的基础上，以LabVIEW和高速数据采集卡为基础搭建了结温测试系统，测得了不同类型贴片式LED的电压温度系数，并研究了其中的规律和差别。在测得LED电压温度系数的基础上测量了贴片式LED结温，特别是测试了液晶模组散热器上LED的结温，验证了使用该结温测试系统应用于液晶模组中LED结温监测的可行性，为LED温度可靠性提供了测试方法。对液晶模组中LED进行了长期老化实验，并测试了老化过程中LED的光输出变化。根据所测数据及相应数学模型预测了LED的有效使用寿命，并探究了加大电流应力对LED老化的影响及电流加速实验对LED可靠性评述的作用。