雪崩光电二极管是量子通信接收端单光子探测领域最重要的核心器件。单光子探测设备利用工作在盖革模式下的雪崩光电二极管具有很高倍增效应的特性来检测单光子。探测效率、后脉冲、暗计数等是评价工作在盖革模式下的雪崩光电二极管几个重要参数,它们直接影响到单光子探测的效果。因而在单光子探测设备制造生产之前对雪崩光电二极管的性能测试验证就显得极为重要。论文针对雪崩光电二极管最关心的各项性能参数,研发了四通道雪崩二极管性能测试系统。论文介绍了当前的雪崩光电二极管测试存在设备冗杂、测试效率低的问题,通过研究雪崩光电二极管的工作原理提出了测试系统的研发需求。设计了以FPGA为控制核心,搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的雪崩光电二极管性能测试系统。测试系统内集成了单光子源,通过系统时钟产生驱动信号驱动激光器发光,在光的传输过程进行了链路衰减设计,实现800KHz频率下-91.93d Bm光强的四路单光子脉冲输出,并且引入了负反馈机制在实现光强监控的同时保证了输出光强的稳定。基于时间数字转换芯片实现27ps高精度数据采集,能够有效进行光子计数,通过对采集信息统计计算得到APD的探测效率、后脉冲率和暗计数率。测试系统采用四通道复用的设计方案,能够同时完成4支APD性能的自动测试,使得单支APD的测试效率由20分钟提升至5分钟。