无线通信技术的高速发展，对其核心部件射频功率放大器（PowerAmplifier，PA）提出了“大功率，高效率，高线性度，小体积”等诸多要求，迫使功放器件逐渐进入到非线性工作区甚至饱和状态。使得功放器件的输出产生了非线性失真，同时由于功放器件自身的物理特性，当前时刻的输出对过去的输入带有记忆性。基于矢量测量的参数化行为模型技术通过对被测器件的端口网络建模，能够有效描述PA的行为特性。静态X参数模型超越了经典的小信号S参数模型，能够描述PA的非线性失真特性，动态X参数模型在静态X参数对稳态响应描述的基础上，引入了表征器件记忆效应的记忆核函数，关于PA器件记忆核（Memory Kernel）的提取与有效性检验是重点研究内容。本文对功放器件的记忆效应展开具体研究。首先介绍了记忆效应研究的理论基础——动态X参数模型，给出了从静态X参数模型开始的推导过程，并分析了记忆效应的表现形式和产生原因。之后根据动态X-参数模型特点，采用“二值包络”的求解方法设计输出“从任意包络幅度到任意包络幅度”Pulsed-RF测试信号，搭建能够输出该信号的单音双电平硬件测试平台，给出了三种信号设计方案，并对Mini-Circuits公司的射频功放ZFL-11AD进行测试。最后，通过射频微波仿真软件ADS对功放模型仿真验证记忆效应的存在，并对之前测试平台对功放ZFL-11AD的测试数据进行处理，提取器件的记忆核，最短时间间隔为1μs，并验证记忆核的有效性。通过对器件记忆核的检验，验证了记忆核函数能够有效描述器件的记忆效应，动态X参数模型能完美的表征功放器件的非线性特性及记忆效应。经过记忆核提取的器件可以建立“记忆核库”，调用记忆核库的数据实现仿真预测。