密封电磁继电器是在国防电子系统中完成信号传递、执行控制、系统配电等功能的主要电子元器件之一,其可靠性直接影响整个国防电子系统的可靠性。随着国防空间技术的发展,密封电磁继电器的使用领域不断扩大、数量要求也越来越大,因而对密封电磁继电器的可靠性的要求越来越高。以往人们没有对密封电磁继电器的所有失效模式进行全面系统的可靠性分析,因此其可靠性设计方面相对落后,对于失效模式的改进缺乏系统的理论依据。本文利用故障模式及危害性分析(FMECA)和故障树分析(FTA)可靠性分析方法对密封电磁继电器进行了系统理论分析,从而找出设计的薄弱环节,给出相应的改进措施,有利于提高密封电磁继电器的可靠性和寿命。首先,建立了密封电磁继电器FMEA表,列出密封电磁继电器的所有失效模式、失效原因、失效影响、检测方法及改进措施。并以某型号密封电磁继电器为例,进行了危害性分析,得出影响其可靠性的关键失效模式。然后建立故障树,进行故障树定性分析,得到设计的薄弱环节,在密封电磁继电器设计、生产和使用中采取必要的补偿措施,以提高其质量可靠性。最后,针对密封电磁继电器的主要失效模式之一,触点粘结失效模式进行分析,建立了触点达到热稳态时开始熔化电流的数学模型,给出了触点熔焊力的计算公式,针对某型号密封电磁继电器,通过理论分析计算其触点粘结失效特性。本课题的研究给出了密封电磁继电器可靠性分析方法,从设计上提出改进措施,为提高继电器的可靠性和寿命提供参考依据。