铌酸锂晶体是一种集电光、声光、压电、非线性、光折变等效应于一身的人工晶体，尤其是实施不同掺杂后能呈现出不同的物理性能，是至今人们所发现的光子学性能最多、综合指标最好的晶体。铌酸锂晶体的生长技术也具有了相当的水平，南开大学和东方钽业公司合作，成功生长出了大尺寸光学级的铌酸锂晶体。　　 通过改进生长技术，精确的控制生长条件，我们成功的抑制了裂纹，降低了位错密度，降低了生长条纹的影响。但是铌酸锂晶体中有一种叫做脉理条纹的缺陷，至今不清楚它的成因和本质。这种缺陷严重的影响了铌酸锂晶体的光学质量，对低通滤波器、光波导、周期极化器件的品质影响很大。　　 本论文对铌酸锂中的脉理条纹的形态和本质进行了研究，旨在解决这种缺陷。　　 第一章，介绍了论文的研究背景。　　 第二章，分析了铌酸锂晶体中脉理条纹的方向性；利用偏光显微镜、偏光照明下观测衍射条纹、细光束扫描三种方法计算它的厚度；分析了它和观测光偏振方向的关系。　　 第三章，通过腐蚀实验，X光衍射微区分析，显微拉曼光谱和原子力显微镜实验对脉理条纹的本质进行了分析。　　 第四章，总结和展望。