本论文主要介绍了闪光照相用Rod-pinch二极管的国内外研究状况及其理论和实验情况，并根据其基本理论，采用Magic程序模拟其中的粒子运动，设计制作了高阻抗Rod-pinch二极管及其参数测量装置，以3MV X光机为实验平台，研究了Rod-pinch二极管的性能。 在Rod-pinch二极管的国内外研究状况中，主要介绍了美国、英国和法国等几个国家的研究情况。在国内目前还没有这方面的研究。 对于二极管的理论主要采用Laminar理论模型，给出其粒子运动平衡方程组，利用数值模拟手段，直观了解其中的粒子运动情况，并给出二极管的模拟电压电流波形，计算出二极管的阻抗，结合临界电流公式和箍缩时二极管的阻抗公式，对比模拟和理论计算结果的差别。 对3MV X光机进行整改，降低电压运行，使输出电压达到2MV，作为二极管性能研究的实验平台。根据实验平台的技术指标，设计高阻抗Rod-pinch二极管及其测量装置，测量二极管的电压、电流、输出剂量及分布、X射线焦斑直径等。二极管最高电压达到2.2MV，电流33kA，焦斑直径最小为0.98mm。 实验表明，Rod-pinch二极管的优越性比较突出，其性能指标通过数值模拟、理论计算和实验结果比对，比较吻合。但阳极杆的巨大物理损伤限制了其发展。