镀膜法高层大气风场探测是干涉成像光谱技术的有效测量方法,是采用被动法获取和研究风场信息的重要手段。被动法大气风场探测是利用干涉仪以大气中携带了风场信息的气辉和极光为探测目标,以具有四个固定光程差的光强度反演大气温度、压力、风场速度等信息。其优点体现为装置简单、分辨率高、探测精度高、受天气影响小等。随着我国航空航天技术的迅速发展,对中高层大气信息的测量显得尤为重要,它也会成为航天和气象探测的重要手段。镀膜法高层大气风场探测是干涉成像光谱技术的有效测量方法。它具有无运动部件、无狭缝和探测波段宽等优点,不仅可以获取更精确的风场信息,还可以将镀膜法广泛应用于定标技术和遥感探测技术等领域。对误差膜面进行容量分析和给出具体限制条件是提高其探测精度的有效途径,也是镀膜法风场探测的关键。随着膜面平整度的不断完善,镀膜法对高层大气风场的探测将被更多人所采纳,在学术和应用领域起到更大的作用。本文找出了以往干涉光谱仪对风场探测产生误差的主要原因,体现了镀膜法风场探测方法的优越性。各种探测风场信息方法的理论基础是相同的,只是力争在光强获取方面提高精度。在镀膜法高层大气风场探测中,膜面的平整度是探测结果的主要因素。研究膜面各种形式的误差是该探测方法的关键。对误差膜面的倾斜角度进行限制,为膜面加工提供了理论基础。