随着现代工业的迅速发展,结构光三维测量在计算机视觉、反求工程、产品开发、质量控制等领域得到广泛的应用,同时对其精确度的要求也不断提高。但对镜面物体进行结构光三维测量时,由于被测物体表面发生镜面反射而产生高光,使得采集的信息缺失,无法进行高效精确的重建,从而导致测量失败,因此如何解决对镜面物体的三维测量成为了近几年的重点研究问题。本文在归纳前人理论的基础上,对传统的高光抑制方法进行改进,并运用在了结构光三维测量领域中,主要研究内容如下:1.分析镜面反射对结构光三维测量的影响原理,并在理论分析的基础上进行系统总体方案设计,总体方案设计包含高光抑制方法的选取、系统标定方法的选取、实验平台的搭建等。2.在现有的高光抑制方法基础上,提出了一种反射分量分离结合像素填补的强反射表面高光抑制方法。首先对反射分量分离理论进行了研究,实验中对一些镜面反射程度过强的图片进行处理时,该方法会使高光区域形成空洞,不能达到去除高光的目的。因此本文对像素填补理论进行了研究,将反射分量分离法与像素填补理论结合在一起并进行了程序编译。3.采用本文所提出的高光抑制方法,针对不同物体进行了三维重构实验并给出了实验结果对比图,最后对处理前后图片中高光像素的数目进行了统计。从实验对比图以及实验数据可以看出,经过高光抑制处理后,图像中的高光区域基本消失、高光像素的数目普遍降低了30-40倍左右,而且重构表面与被测表面视觉效果相同,能够平滑细致地反映被测表面形状。理论分析和试验结果均证明了本文所提出的高光抑制方法的可行性和有效性。