在液晶显示屏的制造过程中,液晶盒的厚度和尺寸一般都要进行严格选择,以便使液晶层的厚度达到设计要求,保证液晶显示器所要求的特定显示模式的实现,例如,扭曲向列液晶显示模式(TN工作模式)、超扭曲液晶显示模式(STN工作模式)、电控双折射模式(ECB工作模式)等,从而能够实现正常的显示效果。具体来说,液晶盒厚度对液晶显示器性能的影响主要体现在以下两个方面:第一,为了获得高对比度、高亮度、高响应速度的显示效果,液晶显示器盒厚的精度必须控制在0.1μm以下,特别是彩色超扭曲向列相液晶显示器( CSTN- LCD),对盒厚的精度要求更高,一般必须控制在±0.05μm以下。第二,液晶显示器盒厚的均匀性对于其显示均匀性也有着至关重要的作用。如果盒厚不均匀,便会引起液晶显示器底色变化,造成颜色废品,特别是在彩色超扭曲向列相液晶显示器制造过程中,对液晶盒厚的均匀性要求更高,该技术的关键之一就是精确控制液晶盒的厚度。本文研究了一种新型的液晶盒厚度测试技术——反射光谱极大值优化拟合法。该技术实现了以白光作为前端光源照射液晶盒,通过测量液晶盒的反射光谱来获得盒厚的信息。在实验中,前端光纤光谱仪主要用于测试反射光谱,光纤光谱仪通过USB接口,将反射光谱及其对应的测试数据传输到计算机中,通过对反射光谱的分析、优化拟合最终得出被测液晶盒厚度。本方法的优点是:测量数据处理过程完全程序化,液晶的物理性质、琼斯矩阵相关的公式推导及其光学相关的复杂公式与测量过程关系不是很大,测试人员可以更容易得到测试结果。本文以生产线上常见的6μm厚的液晶盒为测试对象,采用光干涉法、反射光极值拟合法两种方法对液晶盒进行对比测试,以确定其精度。结果证明,反射光极值优化拟合法测量的重复误差为0.1μm左右,测量范围5μm至30μm,测量时间在1秒以下,有较强的实用价值。