反射面天线在加工、装配和服役等各阶段，不可避免地会产生各种结构误差，主要包括天线面板误差、馈源误差、副面位置误差以及转动误差等因素，这些结构误差会对天线的电磁性能产生严重影响，必须在设计阶段加以定量考虑。为此，须首先研究天线电性能在这些误差影响下的概率分析问题。　　本文在课题组前期工作的基础上，开展了反射面天线辐射性能的概率分析方面的研究工作。着重研究在考虑反射面板各分环误差的情况下，天线电性能的极大熵概率密度估计等问题。主要研究内容是：　　将稀疏网格积分法应用于反射面天线辐射性能统计矩的计算之中，较大程度上提高了统计矩的计算效率。详细讨论了统计矩计算过程中的变量代换问题，分别给出了Monte Carlo法和稀疏网格积分法的实施过程，通过算例对比了两种方法的计算精度和计算量。　　研究了基于分数阶矩的极大熵概率密度估计方法的实施问题。该方法最终归结为一个两层优化问题，在实施过程中容易出现数值积分的发散而导致寻优失败。为此，本文提出采用指数分布作为先验分布，在一定程度上缓解这一问题。为有效求解该两层优化问题，本文在上层优化中采用局部搜索算法，推导了相关灵敏度算式。将该方法应用于某8m天线的概率分析之中，得到了增益损失和副瓣电平的概率密度函数。　　分别采用概率密度法和基于Kriging的雷-菲法对某8m天线的增益损失和副瓣电平可靠性进行了分析计算，结合算例对两种方法进行了对比分析。此外，综合考虑天线面板误差、副面和馈源的位置误差对8m卡氏天线的可靠性进行了研究。