随着现代科学技术的不断前进,光电式被动测距技术的应用将会越加广泛。但目前国内的这种技术在应用上测量系统复杂庞大,测距精度并不理想,测量物体范围有限且系统测距精度受外界环境影响较大。这就使得该技术在工业领域中的应用存在诸多困难,很难实现单人操控。针对这种现状,我们提出了一种新型的被动测距方案,即双点光学被动测距技术。本文从双点光学被动测距技术的基本原理出发,详细阐述了双点光学被动测距技术的总体设计方案,并利用zemax软件对本设计方案中的照明光学系统、变焦光学系统以及望远光学系统进行了仿真；在此基础上结合本课题的具体技术指标,论述了成像探测器件的选取以及后续的图像处理；最后从理论上推导出了本方案的测距误差公式,并计算了不同测距处的测距误差。在达到测距范围为1km至10km之间,相对误差为0.10m至10.00m的较高测距精度的同时,解决了在测距时不知被测目标尺寸的难题,实现了无需被测目标尺寸而达到被动测距的目的。近些年来,人们越来越重视被动测距技术的研究以及应用,在这个领域也取得了较大的成果。被动测距技术在测量精度和测量水平方面也有了明显的提高。在这样的大环境下,双点光学被动测距技术在不久的将来必将会有更长足的发展。