集成电路是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。它是电子设备中最重要的部分,承担着运算和存储的功能。集成电路的应用范围覆盖了军工、民用的几乎所有的电子设备。可以说集成电路是计算机业、数字家电业、通信等行业的绝对“心脏”。随着微电子技术的发展,集成电路的规模越来越大,结构越来越复杂,集成电路的测试生成变得越来越难,花费的时间也越来越多。对于大规模的集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,寻找新型、有效的测试生成算法已成为一个重要的研究课题。组合电路单固定型故障模型是国际上研究最早,也是采用最普遍的故障模型。实践表明,只要单固定型故障的覆盖率达到90%以上,那么单固定型故障的测试集也能检测其它类型的故障,例如多故障和桥接故障。又因为系统在调试阶段发生多故障的概率较大,但在使用阶段发生单固定型故障的可能性要大得多,因此,单固定型故障的测试生成问题一直是国际上研究的热点。从理论上讲,单固定型故障的测试生成问题早在六十年代就己经解决了。然而,理论分析证明,自动测试生成的时间复杂性是个NP完全问题。随着电路规模的增大,测试生成越来越困难。因此,加速测试生成,提高测试生成效率一直为人们所关注。本文采用单固定型故障模型,对组合电路的测试生成进行了研究。以提高故障覆盖率和减小测试生成时间为主要目标,重点研究了以下内容:1.综述了测试生成技术的研究现状和发展概况。2.研究了组合电路中非鲁棒性路径时滞故障的测试生成算法。本文将采用路径分支转换技术,用较成熟的单固定型故障测试生成算法对组合电路中非鲁棒性路径时滞故障生成测试矢量,该算法能够避免“指数爆炸”,提高故障覆盖率,减小测试生成时间,改善测试生成效率。3.研究了组合电路基于搜索状态控制的测试生成算法。EST算法第一次提出了测试矢量搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试矢量搜索的不同状态。通过引入状态等价的概念,缩小了测试码搜索空间。本文通过对搜索状态