随着我国加快建设创新型国家的提出,专利作为技术创新的重要情报源更加受到企业和科技工作者的重视。但由于领域专利数据的不断涌现,技术创新主题的挖掘难度不断增加,如何简化挖掘技术创新主题的过程,全面、快速了解该领域的技术主题及发展趋势,是信息情报人员研究的重点之一。本文提出融合多属性挖掘技术创新主题的方法,借助结构洞理论对领域技术作发展预测,为相关领域企业和科技工作者的研究工作提供思路。具体来说,本文的主要创新点主要分为以下两个方面:(1)基于多属性的技术创新主题挖掘方法针对传统方法识别技术主题的不足,提出融合多属性快速且有效地挖掘领域内多个技术创新主题的方法。将LDA(Latent Dirichlet Allocation)主题模型与专利价值评价指标相结合,提出一种挖掘技术创新主题的量化方法。首先,综合运用TF-IDF、困惑度和四分位数法构建领域专利的LDA主题模型。然后,利用LDA输出的概率分布矩阵,结合专利价值评价指标(权利要求和IPC),建立量化指标体系。接着,选取芯片专利进行验证实验,计算量化指标并运用热力图对其可视化,识别出技术创新主题。最后,基于专利、LDA的输出矩阵、创新主题和量化指标之间的映射关系,进行专利筛选和技术创新主题的合理标记。实验数据选取近5年芯片专利数据,通过邀请微电子领域专家和根据最新的国内外芯片技术对实验结果进行评估。评分结果表明融合多属性的挖掘技术创新主题的方法,能够快速且有效地挖掘出多个技术创新主题。(2)基于结构洞理论的领域技术发展预测既有的研究文献表明专利情报分析领域可借助结构洞的理论和方法发掘网络结构中隐藏的知识,因此,本文将结合结构洞理论对领域技术作发展预测。在LDA输出的概率分布矩阵基础之上,利用四分化的主题-特征词概率分布矩阵,关联主题间相同的特征词,生成主题关联特征词邻接矩阵,继而对邻接矩阵二值化处理。然后,根据社会网络分析(SNA)绘制领域技术主题网络图,引入结构洞理论。紧接着根据各技术主题节点在领域技术主题网络中占据结构洞数量的多少,对各技术主题的创新潜力作发展预测。最后根据对技术主题的预测结果,通过德尔菲法对该领域技术作发展预测研究。实验数据选取近5年芯片专利数据,邀请微电子领域专家根据结构洞识别出的技术主题,对芯片技术作一致性发展预测。本文借助结构洞理论对技术主题作发展预测研究,进而实现对芯片技术的发展预测研究。可以较准确地反应出领域技术的发展趋势,为领域技术发展决策提供参考。