随着数字集成芯片的深入应用，对于数字芯片稳定性的要求也越来越高，为保证芯片始终处于正常状态就需要不断重复进行测试以及容错修复的过程，而在测试或容错算法的研究过程中需要有有效的验证评估方法来支持。故障注入技术做为一种可靠性的验证方法一直为研究人员所青睐，被广泛应用于各系统的稳定性评估，以及测试容错算法的有效性验证中。本文正是针对数字集成电路中的易发故障进行研究，并搭建出通用型的数字集成电路故障注入平台。本文首先从故障模型入手，对数字电路中包括固定故障、翻转故障、延迟故障、桥接故障以及间歇故障这几种易发故障进行分析，具体阐述了故障产生的物理原因，以及每种故障在激活后表现出的逻辑行为，通过提取故障控制参数，建立出可综合故障模型。本课题设计了一个针对数字集成电路的通用型故障注入平台DFIT（Digital-IC-based fault injection tool），以实现自动化注入、精确控制故障行为的目标。并对平台的整体架构和需求分析进行了详细说明，同时具体阐述了平台的各个组成模块包括故障注入器、故障参数选择器、故障时钟模块、通讯模块以及故障管理器等的功能、设计和验证。本平台支持门级以上的数字集成电路的定点自动多故障注入，可通过实时改变故障属性来控制故障行为，且具有故障复现性。最后，通过在国际标准电路集ISCAS’85/89上进行仿真，以遍历激励的测试方式来验证平台注入故障的有效性，并进一步在板级电路实验验证本平台的可操作性及可控性。