随着具有特殊微结构的聚合物在微电子、生物医药、数据存储和功能器件等领域的广泛应用,聚合物在受限空间的结晶行为受到科研人员的广泛关注。聚合物在受限空间内基于界面与空间尺寸的影响,表现出不同于本体内的结晶行为。其中聚合物的晶体排列方式对于其性质具有很大的影响,因此对于聚合物晶体排列的研究不仅有助于我们对于现有结晶理论的理解,还可以帮助我们更好的开发和利用聚合物材料,因此,对于聚合物受限结晶的研究成为高分子领域的热门课题。本文以典型的结晶性聚合物聚氧化乙烯(PEO)为研究对象,基于溶液旋涂法获得一维受限的PEO薄膜,利用热纳米压印技术对薄膜表面进行微结构构筑和基于阳极氧化铝(AAO)纳米管通道进行填充,获得PEO的二维受限环境,本文借助于原子力显微镜(AFM)、偏光显微镜(POM)和扫描电子显微镜(SEM)对样品表面形貌进行研究,利用同步辐射掠入射X射线衍射(GIWAXD)对样品的晶体取向规律进行探究,结果如下:采用了溶液旋涂的手段,通过控制溶液的浓度和旋涂的转速获得厚度在30~1,000 nm的薄膜,通过传统热处理消除PEO薄膜的热历史。发现PEO薄膜的厚度和溶剂对于薄膜的表面粗糙度和微晶堆积的松散度以及晶体各向异性都有明显的影响,但结晶温度对于PEO薄膜表面形貌的影响不明显。薄膜厚度越薄,晶体的单一取向程度越高,氯仿溶剂下PEO原始薄膜内的晶体取向为45°倾斜取向,经过传统热处理后,薄膜内部分片晶的晶体取向转变为flat-on的平行取向,当薄膜厚度为600 nm时明显出现两种取向共存的现象。DMF溶剂下PEO原始薄膜内的晶体以flat-on取向存在,经过热处理后,薄膜内部分片晶的flat-on取向程度发生明显的减弱现象,小部分的flat-on平行取向的片晶转化为45°倾斜取向片晶,并且当薄膜厚度为1,000 nm时明显出现两种取向共存的现象。两种溶剂下结晶温度对于PEO薄膜晶体取向的影响不明显。通过以具有光栅线条结构的聚二甲基硅氧烷(PDMS)弹性体为模板对PEO薄膜进行热压印成功得到PEO线条结构薄膜,周期从850 nm到5.0 um,高度从110 nm到3.0 um。在PEO线条结构薄膜制备的过程中发现,PDMS模板的厚度对压印压力的选择具有重大的影响。其中线宽约为0.9 um,周期约为2.0 um和高度约为240 nm的PEO线条结构薄膜的晶体取向研究发现,PEO在线条结构薄膜内以高度flat-on晶体取向存在,构筑线条结构薄膜的结晶温度、原始膜的溶剂以及适当厚度的残留层都不会对PEO线条结构薄膜内的这种晶体取向产生影响。利用AAO模板的纳米孔结构构筑了PEO纳米柱和纳米管受限体系。利用未固化的PDMS对AAO的纳米通道进行部分填充成功制备了可重复使用的PDMS/AAO混合模板。利用制备的混合模板基于热纳米压印技术成功构筑了PEO纳米柱结构阵列薄膜,发现在压印过程中须对压印体系施加较大的压力才能成功构筑PEO纳米柱结构阵列薄膜。利用PEO膜对双通AAO模板进行熔融渗透,通过控制熔融渗透次数得到不同直径的PEO纳米管,研究发现,AAO纳米管很难被聚合物完全填充,当PEO膜在高温下进行熔融渗透时间过长时,可能由于发生降解而导致无法结晶,通过对PEO纳米柱和纳米管进行X射线衍射测试发现PEO的特征衍射峰的存在,因此PEO在纳米柱和纳米管受限环境下出呈现结晶态,由于时间原因未对PEO受限纳米柱和纳米管的晶体取向进行探究。通过对聚合物受限环境条件的探究和对于受限环境下聚合物晶体取向的研究,能够帮助人们更好的研究聚合物在不同受限环境下的结晶,丰富和理解现有的晶体结晶规律,能够丰富我们对于聚合物晶体取向调控的手段方法,有助于我们更好地开发聚合物的多方应用。