存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下,在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪,现场实时完成信息的快速采集与记忆,事后回收记录仪,由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。可编器件的诞生给存储测试系统带来了巨大的意义。本文就是针对存储测试系统的内部电路部分展开研究的,根据可编程器件的特点,实现了模拟阵列和数字阵列可自由配置和在线编程的功能。本文首先从数字电路部分和模拟电路部分进行了分析,并分别用可编程模拟器ispPAC20和专用集成电路进行了存储模块设计和研究。最后,通过PSoC方案与其它方案的比较,控制器选用赛普拉斯公司的PSoC片上系统微处理器作为控制核心,该处理器除具有一般MCU所具备的数字处理功能外,PSoC芯片内部还集成了不同数量的模拟模块以及相关的模拟总线、比较总线和模拟缓冲器。用户可以通过有效的配置片内的数字和模拟模块资源,来实现所需的特定功能,节省了系统资源,同时由于PSoC引入了动态可重新配置功能,真正实现了在线可编程,因此PSoC具有强大的柔性及集成能力,省去了单片机系统扩展带来的麻烦,提高了系统的可靠性、稳定性。文中对存储测试系统的硬件和软件设计进行了详细的描述。软件的设计采用模块化设计,提高软件的执行效率。