伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试费用达到总开发成本的40%左右。如何有效的对FPGA器件进行测试不但关系到FPGA器件产品的质量,而且关系到产品的设计周期和开发成本等,所以,测试环节已经成为FPGA器件设计和开发中重要的一环。而寻找测试路径是FPGA器件内部互连线测试最初、但却是最为重要和关键的一步。为了在测试中减少测试工作量,提高测试效率,同时又能保证一定的测试覆盖率,论文提出了一种可以在短时间内找到内部互连线的测试路径并且达到95%以上覆盖率的测试方法。该方法利用数组来表示测试路径节点,结合最大流算法来寻找测试路径。论文对最大流算法的原理和流程进行了详细阐述,并通过编写程序将提出的算法程序化、实用化,解决了FPGA测试中寻找测试路径的问题。