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基于Landau-de Gennes理论,我们研究了在不同边界条件和液晶盒厚度的情况下,标准HAN结构、线缺陷结构、本征值交换结构和垂直排列结构四种不同结构之间的相互转变现象。首先,我们研究了锚定强度对结构转变的影响。在单侧弱锚定边界条件情况下,几种结构中的缺陷区域会随着锚定强度的减小而向弱锚定边界移动,当锚定强度系数为(?)≤0.25时缺陷彻底移出弱锚定边界,垂直排列结构成为唯一结构。接着,我们针对盒厚对结构转变的影响进行研究,发现盒厚对结构转变影响在一定数值的盒厚范围内是非常剧烈的。线缺陷结构与