随着信息技术和半导体工艺的发展与进步,装备中集成电路的占比越来越高。为了保证装备的可靠性及安全性,可测性设计成为电路设计中必须考虑的一个步骤。通信系统作为直接决定装备能否正常工作的核心模块,因此设计针对通信设备的机内测试系统十分必要。机内测试的目的是将故障定位到外场或内场可更换单元,进而快速的完成对故障单元的更换,保障装备的作战能力。本文基于以上背景,从机内测试的角度研究了通信设备的内部构成,设计了一种应用于通信设备故障诊断的机内测试系统的硬件平台。所设计的机内测试系统融合了数字电路的边界扫描测试方式与传统模拟信号参数测量方式,主要研究内容如下:1.通过分析机内测试的特点以及通信设备的测试需求,并将GJB2547A-2012《装备测试性工作通用要求》纳入设计指导,给出了通信设备机内测试系统的架构并完成了硬件平台总体方案的设计。2.基于Xilinx全可编程SOC芯片,完成了BIT(Built-in Test)系统的串行总线协议和BIT主系统中PL(Programmable Logic)的逻辑电路设计,实现了主系统与各测试分系统单元的通信、主系统与上位机的通信以及故障显示等功能。3.针对测试需求中的无源测试点,设计了模拟BITE(Built-in Test Equipment)、中频BITE和射频BITE电路。首先使用8通道ADC对低频和直流信号进行循环监测。然后基于带通采样和正交解调理论,在FPGA中完成了中频调制信号的数字下变频和抽取滤波。最后依据等精度测频原理和TRMS功率测量方法,设计了分频和检波电路,实现了射频信号功率和频率的测量。4.基于IEEE1149.1协议标准,设计了有源测试点的数字BITE测试分系统。覆盖的可测指令包括IDCODE、SAMPLE/PRELOAD、EXTEST、HIGHZ等。同时设计了可模拟故障的待测电路和扫描链路,完成了对数字模块的边界扫描测试控制器的测试功能验证。论文最后使用标准信号源模拟通信设备中的测试点信号,同时通过上位机软件下发测试命令,对所设计的机内测试系统硬件平台进行了全性能指标测试。测试结果表明硬件平台能够稳定工作且各BITE分系统的测试结果均达到指标要求,本文的设计达到预期的目标。