近年来，固体核径迹探测器常常被用来记录高能核-核碰撞实验中粒子的径迹效果。而高能核-核碰撞为计算描述飞船上的防护墙对宇宙射线中原子核辐射防护效果提供重要的参数，同时也是计算描述行星的栖息地的必要参数。高能核-核碰撞同时也为辐射生物学和放射医学提供了理论基础。高能核-核碰撞中可以通过反应截面及射弹散射角来分析计算求得相应物理量。固体核径迹探测器与靶交叉放置的实验堆经过624A MeV的硅粒子束流照射，照射是在日本的NIRS实验室完成的。本论文的研究目标是经过624A MeV的硅粒子束流照射的第一个靶和第二个靶。在实验中，固体核径迹探测器经过蚀刻很短的时间后，用HSP-1000自动扫描显微镜扫描蚀刻径迹，可以观测到直径为几百纳米的蚀刻径迹截面。在此实验中，我们用固体核径迹探测器来记录径迹，然后测量直径非常小的蚀刻径迹截面的面积。通过分析这些数据我们可以得出射弹的反应总截面和反应分截面以及初级粒子和次级粒子的散射角。结果表明624A MeV的28Si受CH2靶作用后，表现出明显的奇偶性，产生散射角较小，且射弹碎片的发射角随碎片电荷数的减小而增加。