相位测量轮廓术(PMP)是一种光学三维面形测量技术，由于其具有非接触、高速度、高精度、全场性等特点，这种技术已在智能控制、交通疏导、模型测量、冲压仪表检测、机械形变与微振分析等领域得到广泛的应用。 在实际测量应用中，相位测量轮廓术的测量精度受到投影光场的正弦性、探测器件的非线性、相位展开过程中的误差传递、阴影及条纹错位等因素影响。本文就提高相位测量轮廓术测量精度方面做了分析和研究，研究工作主要如下： 1．提出了采用非整数倍双频光栅投影的相位测量轮廓术，减小在相位展开过程中误差的传递，与采用整数倍双频光栅投影测量进行了模拟对比实验，表明测量精度得到了提高。 2．提出相位测量中的标记拼接方法。在同一参考面内分别旋转被测物体0度和180度用PMP进行两次测量，利用所设定的标记进行拼接，在不增加测量系统复杂度的情况下，减小了阴影及条纹错位对测量精度影响。 3．介绍了基于相位测量轮廓术的最小公倍数时间相位展开方法，并对实物进行了测量。