集成电路测试技术是生产高性能集成电路的关键。由于CMOS集成电路中的故障和制造缺陷是多种多样的，其中有些故障既不能被电压测试也不能被稳态电流测试方法检测出来。90年代中期，人们提出了瞬态电流测试的概念，企图通过观察和分析电路在其内部状态发生变化时所产生的瞬态电流，来发现某些不被电压测试和稳态电流测试所能发现的故障，提高产品质量。 随着现代设计和封装技术的发展，外部测试变的越来越不适应。一方面外部测试需要专门的测试工具；另一方面测试向量的生成比较困难，测试集的向量数也很多，测试时间长。内建自测试的方法由于测试迅速有效而逐渐受到人们的重视。 根据已有的研究成果，我们发现瞬态电流测试中的测试向量对绝大多数只有1～2位不同。本文设计了一种用于瞬态电流测试的BIST测试向量生成器。该向量生成器对瞬态电流测试向量对中的第一个测试向量随机生成，第二个测试向量通过对第一个测试向量的1～2位随机取反得到。然后，这两个向量组成一对测试向量施加到被测电路。实验表明，该方法能以较少的测试向量得到较高的故障覆盖率。 由于瞬态电流测试需要一对测试向量，已提出的用于瞬态电流测试的内建自测试方法都存在生成的测试向量序列长，测试时间开销大的问题。本文在分析了瞬态电流测试向量的特点后，设计了一种新的用于瞬态电流测试的内建自测试方法。该方法把用于瞬态电流测试的一对测试向量转换成一个一维的测试向量，并采用多项BIST的方法进行生成。测试生成后，再将一维的测试向量转换成瞬态电流测试需要的测试向量对施加到被测电路。实验表明，对于输入端较多的电路，该方法生成的测试向量序列长度极大的减少，硬件开销也较小。