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以在校大学生为被试,把被试分成两组,即工作记忆广度高低两组,采用事件相关电位,进行GO/NOGO任务,对比研究反应抑制的脑内时程动态变化。结果发现：两种被试都存在冲突NOGO刺激比无关NOGO刺激的反应时的显著差异,广度低组的抑制效应明显强于广度高组；被试在完成GO/NOGO刺激任务材料的反应任务时所诱发的ERP成分存在差异,具体为高广度组表现为在316-596 ms内,无关NOGO刺激比冲突NOGO刺激诱发一个更大的ERP成分(P3),主要分布于额中部电极。低广度组反应抑制表现为无关NOGO刺激比冲突NOGO刺激在420-572 ms内诱发一个更正的ERP成分(P3),主要分布于左侧额顶叶；在636-656ms内诱发一个更负的ERP成分(N500),主要分布于中后部。研究结果表明工作记忆广度会影响反应抑制的脑内时程变化。