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利用二次离子质谱仪(SIMS)得到钠钙硅玻璃上下表面硫的含量分布。根据菲克第二定律,理论推导得到S6+和S2-的扩散模型,通过对硫含量分布的拟合发现该模型可以很好地反映玻璃上下表面硫(S6+和S2-)的分布。拟合计算得到S6+扩散系数的数量级为-16,S2-扩散系数的数量级为-19；下表面S6+和S2-的扩散系数均大于上表面,这与玻璃上下表面接触的介质有关,锡更有利于硫的扩散。