斜入射光反射差(Oblique-incidence reflectivity difference,简写OIRD)技术是近年来发展起来的一种探测界面变化的新方法,其基本原理是通过测量斜入射到界面上的反射光的偏振光s和p分量差值的变化来检测界面上的特性变化(图1a)。前期研究证明OIRD 技术在生物芯片的无标记探测方面具有很大的应用潜力,具有非标记、无损伤、实时在线、广泛适用于不同载体表面等优势,但灵敏度偏低。[1]我们的研究表明：采用聚合物刷作为表面修饰层,在载玻片表面构建抗体芯片,可极大提高其灵敏度,降低检测限。该OIRD抗体芯片在10％人血清中对HBsAg蛋白的检测限可低至20 ng mL-1,相比普通玻璃表面抗体芯片(即3层光学模型)检测限降低近2个数量级,并具有优异的检测特异性(图1b)。理论分析表明信号增敏一方面是聚合物刷作为一个三维功能层,其探针分子的固定密度远高于普通的平面芯片,并有效抑制了非特异性吸附带来的噪音；更重要的是聚合物刷的引入使光学界面由3层向4层模型转变(图1c),改变了入射偏振光在界面附近与物质相互作用的模式。