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该文尝试椭偏测量的方法,通过对HgCdTe/CdTe/GaAs样品进行剥层腐蚀,获得样品在不同厚度下的椭偏光谱。对测得的光谱进行组分分析,得到HgCdTe/CdTe样品的组分在不同厚度下的分布。并根据上述结果对Zanio的提出扩散系数公式(1)进行修正,最终得到490℃的组分互扩散系数。D(x)=4×10<-3>×10<-3x>