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Variable temperatures spectroscopic ellipsometry study of the optical properties of InAlNGaN grown o
【机 构】
:
Lab.ofoptoelectronicmaterials&detectiontech.,GuangxiKeyLab.forRelativisticAstrophysics,CollegeofPhys
【出 处】
:
第二届全国偏振与椭偏测量研讨会
【发表日期】
:
2016年11期
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