低压电器电触头质量检测与评价的研究

来源 :中国电工技术学会低压电器专业委员会第十三届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ceylong2000

【摘要】

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钎焊缺陷是影响电触头性的二维超声C扫描图像可以反映钎焊缺陷的分布特征.利用超声C扫描图像的二值化处理后的图像可以计算出该界面的钎着率,并根据所得的钎着率判断电触头钎

【作者】

：

杨日胜王裕文潘希德薛锦

【机构】

：

西安交通大学,焊接研究所,陕西,西安,710049

【出处】

：

中国电工技术学会低压电器专业委员会第十三届学术年会

【发表日期】

：

2007年期

【关键词】

：

低压电器电触头质量检测钎着率扫描图像钎焊缺陷二值化处理影响因素钎焊质量计算方法分布特征二维超声界面

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钎焊缺陷是影响电触头性的二维超声C扫描图像可以反映钎焊缺陷的分布特征.利用超声C扫描图像的二值化处理后的图像可以计算出该界面的钎着率,并根据所得的钎着率判断电触头钎焊质量的好坏.本文分析研究了钎着率的计算方法,检测钎着率的影响因素.

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