用脉冲准分子激光“图形直写”技术制备周期性硅晶粒结构薄膜

来源 :第二届全国金属功能材料第九届全国非晶态材料和物理第三届全国稀土永磁材料联合学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:feihuiy1
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文报道用气相脉冲KrF(248nm)准分子激光“图形直写”技术晶化非晶硅(a-Si)薄膜制备周期性硅晶粒结构.实验发现,大小约为2μm的硅晶粒严格按确定的周期分布在样品中,在室温下样品发出红光,谱峰的峰波长位于723nm和750nm.通过改变a-Si薄膜的生长条件,控制晶化过程中激光光束的能量分布和样品中温度场分布,有望制备出晶粒尺寸更小的硅晶粒周期结构.
其他文献
用化学沉积方法在近似中性条件下以DMAB为还原剂制备了纳米晶估硼合金.采用了DSC、TEM等手段表征了纳米晶钴硼合金在沉积态和热处理态下的结构变化情况.用振动试样磁强计(VSM)考察了沉积膜的磁学性能.结果显示,沉积态纳米晶钴硼合金具有良好的软磁特性,Hc//达到222.82A/m,在140℃热处理1h后,Hc//达到183.03A/m,随着热处理温度的进一步提高,晶粒尺寸不断增大,软磁性能呈现恶
本文研究了TbDy(Fe)(T=Al,Mn)室温下磁致伸缩随应力的变化.在一定温度和压力下,由于Al或Mn替代Fe降低了磁致伸缩,但同时也降低了过饱和场.
本文初步报道了钙钛矿型锰氧化物多晶材料LaSrMnO(0.1≤x≤0.45)磁谱的研究结果.平均粒晶为1.2μm的环状样品由溶胶-凝胶法制备,并经1773K烧结.结果显示,当x≥0.2时,样品的磁谱为典型的弛豫型谱线,弛豫频率随温度降低而减少,与x无明显关联.也豫曲线主要来源于畴壁弛豫.而在x=0.1和0.15样品中没有观察到磁谱,可能是由于在0.1≤x≤0.15之间,样品呈散铁磁性或散反铁磁性,
本文初步研究了双钙钛矿型SrCrWO的磁性和输运性质.SrCrWO多晶在Ar气及真空气氛中经固相烧结而形成.X-射线衍射分析表明主相为SrCrWO,少量杂相为SrWO.热磁测量表明样品的居里温度为480K左右.样品矫顽力较大,在5.97×10A/m左右,远大于SrFeMoO或锰氧化物LaSrMnO.电阻随温度降低而升高,类似于绝缘体,在外场5T,低温(25K)下磁致电阻MR可达20﹪,但MR随温度
研究了机械合金化过程中粉末形态和微结构的变化,通过扫描电子显微镜,能清楚地观察到粉末颗粒的破和聚集复合过程以及复合颗粒的形成.X-射线衍射分析表明,非晶的产生与粉末复合颗粒的形成有着密切的关系,且球磨的最终产物为非晶+α-Fe(Mo)+Mo.
本文提出了利用分子场近似结合中子衍射或X射线衍射的实验结果计算RFe型稀土过渡族化合物中的稀土磁矩与过渡族磁矩之间的交换耦合常数的方法,并据此计算了TbFeAl和GdFeAl(x=7,8)化合物中的稀土磁矩与过渡族磁矩之间的交换耦合常数-J,计算结果分别为10.66K,10.65K和9.85K与高场测量的实验值10.35K,10.1K和10.3K符合得较好.
本文对球磨SmCo及后续退火所形成纳米晶的结构与磁性进行了研究.研究表明球磨后样品经不同温度退火可形成1:7相、1:5相和2:17相.样品的晶粒大小随退火温度的升高而增大.由于成相和晶粒大小的变化,样品的磁性也能发生很大变化:随退火温度的升高样品的矫顽力先升高而后降低,饱和磁化强度,剩磁比和最大磁能积随退火温度的升高而下降,通过对球磨后550℃退火30min的样品的矫顽力机制研究表明,其矫顽力由钉
本文研究了不同Al含量对NdFeB/α-Fe双相纳米永磁材料显微结构和磁性能的影响.采用熔体快淬方法制备实验样品,分析、测量了样品的相组成及磁性能.研究了快淬样品在特定温度下,热处理前后的磁性能改变.结果表明,随着添加的Al含量的增加,在同一制备工艺下材料淬态的非晶化更为显著,且NdFeB相的结晶温度向高温方向偏移.与不含Al的样品相比,Al的添加显著降低快粹材料的矫顽力和饱和磁化强度,但大大提高
在探索有效发光电子器件和光电集成微电子材料的研究中,掺杂稀土硅材料近年来引起了人们的关注.我们用离子注入的方法制备了掺La、Nd和Ce的硅氧化膜,研究了他们的乐致发光特性.实验表明,在紫外光(λ=250nm)激发下,他们均具有显著的蓝紫光发射,且发光稳定,光致发光(PL)谱具有多峰结构,发光强度与掺稀土种类、浓度和制备过程中退火温度等多种因素有关.本文对发光机现也作了初步探讨.
用共蒸发方法将高纯稀土金属镱和多晶硅材料以原子比1:2蒸发在单晶硅和SiO衬底上得到了非晶稀土硅化物,然后对其进行红外退火和原位电阻率测量.用2.5MeVLi背散射技术确定了材料中的成分及其分布,用X-射线衍射测量了样品的结构相.原位电阻率测量表明,单晶硅上稀土硅化物的外延生长温度约为260℃,而SiO衬底非晶相-晶相的转变温度为400℃左右,说明稀土硅化物的固相外延生长温度显著低于自身的晶化温度