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正电子湮没寿命谱测量中，正电子放射源成分的扣除会对寿命谱的解谱结果产生一定影响。测量正电子湮没寿命谱时，采用的是三明治结构，放射性同位素22Na由7微米厚的Kapton膜封装，待测样品紧贴在膜的外边。实验时，通常采用测量标准样品的方法，确定正电子在Kapton膜中的湮没成分。为了确定不同样品测量时放射源准确的扣除成分，采用Geant4软件模拟了不同样品时正电子在Kapton膜中湮没的贡献，修正放射源成分扣除对寿命谱解谱结果的影响。