多孔材料的比表面积和孔径分布,能够显著影响它们在催化、化学储能、气体储存、吸附分离等领域的应用。超低比表面积的样品通常指比表面积小于1 m²/g甚至0.1 m²/g的样品,表征这类样品的比表面积和孔径分布时,常规的方法（例如使用N₂、Ar等气体的分析表征）难以对其进行准确分析,因为N₂、Ar分析时饱和蒸气压达到101.325 kPa,对吸附量的细微变化不敏感。于此相对的是,Kr在77 K、87 K下饱和蒸气压只有2.6 torr、13 torr,对压力的变化比N₂、Ar要敏感得多,是一种理想的表征超低比表面积样品的气体。例如,使用N₂（77 K）方法分析一种石墨薄膜样品时,BET比表面积的线性只有0.608,BET比表面积结果没有参考意义。而将Kr（77 K）方法应用于该样品的分析,BET比表面积的线性达到0.999,计算得到的比表面积数值为0.172 m²/g。Kr（87 K）对超低比表面积样品——主要是薄膜类样品——具有出色的测试精度。以一种电池基片材料为例,Kr（87 K）方法可以得到孔径小于10nm的孔径分布结果,峰值为2 nm。