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电流镜(CM)是模拟集成电路中最基本单元电路之一.其器件的固有非线性是模拟集成电路中最主要的电磁干扰源.电磁干扰信号使得IC中的有效信号畸变,更甚者在IC的敏感节点处产生严重的直流漂移,导致电路不能正常工作.本文在基于遗传算法边缘器件的基础上提出了一种新的电流镜拓扑,其分析和仿真结果表明该电流镜具有良好的抗电磁干扰能力。