G.657光纤模场直径测量研究

来源 :中国通信学会2012年光缆电缆学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：vista_momo

【摘要】

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　　模场直径是影响光纤接续损耗的关键因素.普通G.652光纤模场直径的测量可以按照国标要求饶一个30mm的圆圈来消除高次模的影响，从而准确测出模场直径.G.657光纤因对弯曲不敏

【作者】

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Li chunsheng 李春生 Lin Zhong 林中 Wang Zhenyue 王振岳 Liu cheng 刘骋

【机构】

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KeyLaboratoryofInfomationPhotonicsandOpticalCommunications,BeijingUniversityofPostsandTelecommunicat

【出处】

：

中国通信学会2012年光缆电缆学术年会

【发表日期】

：

2012年9期

【关键词】

：

光纤模场直径测量标准

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论文部分内容阅读

　　模场直径是影响光纤接续损耗的关键因素.普通G.652光纤模场直径的测量可以按照国标要求饶一个30mm的圆圈来消除高次模的影响，从而准确测出模场直径.G.657光纤因对弯曲不敏感，简单绕圈的方法不能完全消除高次模，采用传统的方法测试模场直径误差大.为了准确测量G.657光纤的模场直径，根据国标滤除高次模的要求，提出了三种测试方法.并结合实际测试进行了验证.最后结合实际操作的可行性，提出了日常测试的方法建议.

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